TY  - RPRT
TI  - Characterization of Defect Structure in Electrodeposited Nanocrystalline Ni Films
AU  - Tamás Kolonits
AU  - Péter Jenei
AU  - Bence G. Tóth
AU  - Zsolt Czigány
AU  - Jenő Gubicza
AU  - László Péter
AU  - Imre Bakonyi
PY  - 2017
DO  - 10.1149/2.0911603jes
UR  - https://arxiv.org/abs/1703.05191
ID  - 1703.05191
ER  -