TY  - RPRT
TI  - An open-source platform to study uniaxial stress effects on nanoscale devices
AU  - G. Signorello
AU  - M. Schraff
AU  - P. Zellekens
AU  - U. Drechsler
AU  - M. Buerge
AU  - H. R. Steinauer
AU  - R. Heller
AU  - M. Tschudy
AU  - H. Riel
PY  - 2017
DO  - 10.1063/1.4983573
UR  - https://arxiv.org/abs/1704.01394
ID  - 1704.01394
ER  -