TY  - RPRT
TI  - Electrical resistance of individual defects at a topological insulator surface
AU  - Felix Lüpke
AU  - Markus Eschbach
AU  - Tristan Heider
AU  - Martin Lanius
AU  - Peter Schüffelgen
AU  - Daniel Rosenbach
AU  - Nils von den Driesch
AU  - Vasily Cherepanov
AU  - Gregor Mussler
AU  - Lukasz Plucinski
AU  - Detlev Grützmacher
AU  - Claus M. Schneider
AU  - Bert Voigtländer
PY  - 2017
DO  - 10.1038/ncomms15704
UR  - https://arxiv.org/abs/1704.06580
ID  - 1704.06580
ER  -