TY  - RPRT
TI  - Characterization and Reduction of Capacitive Loss Induced by Sub-Micron Josephson Junction Fabrication in Superconducting Qubits
AU  - A. Dunsworth
AU  - A. Megrant
AU  - C. Quintana
AU  - Zijun Chen
AU  - R. Barends
AU  - B. Burkett
AU  - B. Foxen
AU  - Yu Chen
AU  - B. Chiaro
AU  - A. Fowler
AU  - R. Graff
AU  - E. Jeffrey
AU  - J. Kelly
AU  - E. Lucero
AU  - J. Y. Mutus
AU  - M. Neeley
AU  - C. Neill
AU  - P. Roushan
AU  - D. Sank
AU  - A. Vainsencher
AU  - J. Wenner
AU  - T. C. White
AU  - John M. Martinis
PY  - 2017
DO  - 10.1063/1.4993577
UR  - https://arxiv.org/abs/1706.00879
ID  - 1706.00879
ER  -