TY  - RPRT
TI  - Electrical Properties and Subband Occupancy at the (La,Sr)(Al,Ta)O$_3$/SrTiO$_3$ Interface
AU  - K. Han
AU  - Z. Huang
AU  - S. W. Zeng
AU  - M. Yang
AU  - C. J. Li
AU  - W. X. Zhou
AU  - X. Renshaw Wang
AU  - T. Venkatesan
AU  - J. M. D. Coey
AU  - M. Goiran
AU  - W. Escoffier
AU  - Ariando
PY  - 2017
UR  - https://arxiv.org/abs/1706.09592
ID  - 1706.09592
ER  -