TY  - RPRT
TI  - Investigation of thickness dependent composition of boron carbide thin films by resonant soft x-ray reflectivity
AU  - P. N. Rao
AU  - R. K. Gupta
AU  - K. Saravanan
AU  - A. Bose
AU  - S. C. Joshi
AU  - T. Ganguli
AU  - S. K. Rai
PY  - 2017
UR  - https://arxiv.org/abs/1708.07378
ID  - 1708.07378
ER  -