TY  - RPRT
TI  - Depth profiling charge accumulation from a ferroelectric into a doped Mott insulator
AU  - M. Marinova
AU  - J. E. Rault
AU  - A. Gloter
AU  - S. Nemsak
AU  - G. K. Palsson
AU  - J. -P. Rueff
AU  - C. S. Fadley
AU  - C. Carretero
AU  - H. Yamada
AU  - K. March
AU  - V. Garcia
AU  - S. Fusil
AU  - A. Barthelemy
AU  - O. Stephan
AU  - C. Colliex
AU  - M. Bibes
PY  - 2017
DO  - 10.1021/acs.nanolett.5b00104
UR  - https://arxiv.org/abs/1708.09160
ID  - 1708.09160
ER  -