TY  - RPRT
TI  - Subnanometer localization accuracy in widefield optical microscopy
AU  - Craig R. Copeland
AU  - Jon Geist
AU  - Craig D. McGray
AU  - Vladimir A. Aksyuk
AU  - J. Alexander Liddle
AU  - B. Robert Ilic
AU  - Samuel M. Stavis
PY  - 2018
DO  - 10.1038/s41377-018-0031-z
UR  - https://arxiv.org/abs/1710.09803
ID  - 1710.09803
ER  -