TY  - RPRT
TI  - Thickness dependence of unidirectional spin-Hall magnetoresistance in metallic bilayers
AU  - Yuxiang Yin
AU  - Dong-Soo Han
AU  - Mark C. H. de Jong
AU  - Reinoud Lavrijsen
AU  - Rembert A. Duine
AU  - Henk J. M. Swagten
AU  - Bert Koopmans
PY  - 2017
DO  - 10.1063/1.5003725
UR  - https://arxiv.org/abs/1711.06488
ID  - 1711.06488
ER  -