TY  - RPRT
TI  - Charge collection properties of irradiated depleted CMOS pixel test structures
AU  - I. Mandić
AU  - V. Cindro
AU  - A. Gorišek
AU  - B. Hiti
AU  - G. Kramberger
AU  - M. Zavrtanik
AU  - M. Mikuž
AU  - T. Hemperek
PY  - 2018
DO  - 10.1016/j.nima.2018.06.062
UR  - https://arxiv.org/abs/1801.03671
ID  - 1801.03671
ER  -