TY  - RPRT
TI  - Critical behavior of two-dimensional intrinsically ferromagnetic semiconductor CrI3
AU  - G. T. Lin
AU  - X. Luo
AU  - F. C. Chen
AU  - J. Yan
AU  - J. J. Gao
AU  - Y. Sun
AU  - W. Tong
AU  - P. Tong
AU  - W. J. Lu
AU  - Z. G. Sheng
AU  - W. H. Song
AU  - X. B. Zhu
AU  - Y. P. Sun
PY  - 2018
DO  - 10.1063/1.5019286
UR  - https://arxiv.org/abs/1801.09878
ID  - 1801.09878
ER  -