TY  - RPRT
TI  - Via Method for Lithography Free Contact and Preservation of 2D Materials
AU  - Evan J. Telford
AU  - Avishai Benyamini
AU  - Daniel Rhodes
AU  - Da Wang
AU  - Younghun Jung
AU  - Amirali Zangiabadi
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Shuang Jia
AU  - Katayun Barmak
AU  - Abhay N. Pasupathy
AU  - Cory R. Dean
AU  - James Hone
PY  - 2018
DO  - 10.1021/acs.nanolett.7b05161
UR  - https://arxiv.org/abs/1802.02197
ID  - 1802.02197
ER  -