TY  - RPRT
TI  - Stability of boron-doped graphene/copper interface: DFT, XPS and OSEE studies
AU  - D. W. Boukhvalov
AU  - I. S. Zhidkov
AU  - A. I. Kukharenko
AU  - A. I. Slesarev
AU  - A. F. Zatsepin
AU  - S. O. Cholakh
AU  - E. Z. Kurmaev
PY  - 2018
DO  - 10.1016/j.apsusc.2018.02.074
UR  - https://arxiv.org/abs/1802.02345
ID  - 1802.02345
ER  -