TY  - RPRT
TI  - Stacked Wafer Gradient Index Silicon Optics with Integral Anti-reflection Layers
AU  - F. Defrance
AU  - G. Chattopadhyay
AU  - J. Connors
AU  - S. Golwala
AU  - M. I. Hollister
AU  - C. Jung-Kubiak
AU  - E. Padilla
AU  - S. Radford
AU  - J. Sayers
AU  - E. C. Tong
AU  - H. Yoshida
PY  - 2018
UR  - https://arxiv.org/abs/1802.04854
ID  - 1802.04854
ER  -