TY  - RPRT
TI  - Microwave device characterisation using a widefield diamond microscope
AU  - Andrew Horsley
AU  - Patrick Appel
AU  - Janik Wolters
AU  - Jocelyn Achard
AU  - Alexandre Tallaire
AU  - Patrick Maletinsky
AU  - Philipp Treutlein
PY  - 2018
DO  - 10.1103/physrevapplied.10.044039
UR  - https://arxiv.org/abs/1802.07402
ID  - 1802.07402
ER  -