TY  - RPRT
TI  - Fidelity benchmarks for two-qubit gates in silicon
AU  - W. Huang
AU  - C. H. Yang
AU  - K. W. Chan
AU  - T. Tanttu
AU  - B. Hensen
AU  - R. C. C. Leon
AU  - M. A. Fogarty
AU  - J. C. C. Hwang
AU  - F. E. Hudson
AU  - K. M. Itoh
AU  - A. Morello
AU  - A. Laucht
AU  - A. S. Dzurak
PY  - 2018
DO  - 10.1038/s41586-019-1197-0
UR  - https://arxiv.org/abs/1805.05027
ID  - 1805.05027
ER  -