TY  - RPRT
TI  - Full field electron spectromicroscopy applied to ferroelectric materials
AU  - N. Barrett
AU  - J. E. Rault
AU  - J. L. Wang
AU  - C. Mathieu
AU  - A. Locatelli
AU  - T. O. Mentes
AU  - M. A. Nino
AU  - S. Fusil
AU  - M. Bibes
AU  - A. Barthelemy
AU  - D. Sando
AU  - W. Ren
AU  - S. Prosandeev
AU  - L. Bellaiche
AU  - B. Vilquin
AU  - A. Petraru
AU  - I. P. Krug
AU  - C. M. Schneider
PY  - 2018
DO  - 10.1063/1.4801968
UR  - https://arxiv.org/abs/1806.04849
ID  - 1806.04849
ER  -