TY  - RPRT
TI  - Experimental verification of electrostatic boundary conditions in gate-patterned quantum devices
AU  - H. Hou
AU  - Y. Chung
AU  - G. Rughoobur
AU  - T. K. Hsiao
AU  - A. Nasir
AU  - A. J. Flewitt
AU  - J. P. Griffiths
AU  - I. Farrer
AU  - D. A. Ritchie
AU  - C. J. B. Ford
PY  - 2018
DO  - 10.1088/1361-6463/aac376
UR  - https://arxiv.org/abs/1806.09143
ID  - 1806.09143
ER  -