TY  - RPRT
TI  - Lifetime Study of COTS ADC for SBND LAr TPC Readout Electronics
AU  - H. Chen
AU  - J. Evans
AU  - J. Fried
AU  - S. Gao
AU  - F. Liu
AU  - G. Miller
AU  - K. Mistry
AU  - J. Pater
AU  - A. Szelc
AU  - V. Radeka
AU  - J. Zhang
PY  - 2018
UR  - https://arxiv.org/abs/1806.09226
ID  - 1806.09226
ER  -