TY  - RPRT
TI  - Effect of device design on charge offset drift in Si/SiO$_2$ single electron devices
AU  - Binhui Hu
AU  - Erick D. Ochoa
AU  - Daniel Sanchez
AU  - Justin K. Perron
AU  - Neil M. Zimmerman
AU  - M. D. Stewart Jr
PY  - 2018
DO  - 10.1063/1.5048013
UR  - https://arxiv.org/abs/1807.04342
ID  - 1807.04342
ER  -