TY  - RPRT
TI  - Immunity to Scaling in MoS2 Transistors Using Edge Contacts
AU  - Zhihui Cheng
AU  - Katherine Price
AU  - Shreya Singh
AU  - Steven Noyce
AU  - Yuh-Chen Lin
AU  - Yifei Yu
AU  - Linyou Cao
AU  - Aaron D. Franklin
PY  - 2018
DO  - 10.1021/acs.nanolett.9b01355
UR  - https://arxiv.org/abs/1807.08296
ID  - 1807.08296
ER  -