TY  - RPRT
TI  - 3D-Printed Optics for Wafer-Scale Probing
AU  - Mareike Trappen
AU  - Matthias Blaicher
AU  - Philipp-Immanuel Dietrich
AU  - Tobias Hoose
AU  - Yilin Xu
AU  - Muhammad Rodlin Billah
AU  - Wolfgang Freude
AU  - Christian Koos
PY  - 2018
UR  - https://arxiv.org/abs/1808.10834
ID  - 1808.10834
ER  -