TY  - RPRT
TI  - Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers
AU  - L. Persichetti
AU  - M. Fanfoni
AU  - M. De Seta
AU  - L. Di Gaspare
AU  - L. Ottaviano
AU  - C. Goletti
AU  - A. Sgarlata
PY  - 2018
DO  - 10.1016/j.apsusc.2018.08.075
UR  - https://arxiv.org/abs/1809.03404
ID  - 1809.03404
ER  -