TY  - RPRT
TI  - Spatial mapping of band bending in semiconductor devices using in-situ quantum sensors
AU  - D. A. Broadway
AU  - N. Dontschuk
AU  - A. Tsai
AU  - S. E. Lillie
AU  - C. T. -K. Lew
AU  - J. C. McCallum
AU  - B. C. Johnson
AU  - M. W. Doherty
AU  - A. Stacey
AU  - L. C. L. Hollenberg
AU  - J. -P. Tetienne
PY  - 2018
DO  - 10.1038/s41928-018-0130-0
UR  - https://arxiv.org/abs/1809.04779
ID  - 1809.04779
ER  -