TY  - RPRT
TI  - Universal scaling behavior of the upper critical field in strained FeSe0.7Te0.3 thin films
AU  - Feifei Yuan
AU  - Vadim Grinenko
AU  - Kazumasa Iida
AU  - Stefan Richter
AU  - Aurimas Pukenas
AU  - Werner Skrotzki
AU  - Masahito Sakoda
AU  - Michio Naito
AU  - Alberto Sala
AU  - Marina Putti
AU  - Aichi Yamashita
AU  - Yoshihiko Takano
AU  - Zhixiang Shi
AU  - Kornelius Nielsch
AU  - Ruben Huehne
PY  - 2018
DO  - 10.1088/1367-2630/aade66
UR  - https://arxiv.org/abs/1809.05240
ID  - 1809.05240
ER  -