TY  - RPRT
TI  - Defect-induced exchange bias in a single SrRuO3 layer
AU  - Changan Wang
AU  - Chao Chen
AU  - Ching-Hao Chang
AU  - Hsu-Sheng Tsai
AU  - Parul Pandey
AU  - Chi Xu
AU  - Roman Böttger
AU  - Deyang Chen
AU  - Yu-Jia Zeng
AU  - Xingsen Gao
AU  - Manfred Helm
AU  - Shengqiang Zhou
PY  - 2018
DO  - 10.1021/acsami.8b07918
UR  - https://arxiv.org/abs/1809.11035
ID  - 1809.11035
ER  -