TY  - RPRT
TI  - Thermal resistance of GaN/AlN graded interfaces
AU  - Ambroise van Roekeghem
AU  - Bjorn Vermeersch
AU  - Jesús Carrete
AU  - Natalio Mingo
PY  - 2019
DO  - 10.1103/physrevapplied.11.034036
UR  - https://arxiv.org/abs/1809.11046
ID  - 1809.11046
ER  -