TY  - RPRT
TI  - Thickness-Dependent Differential Reflectance Spectra of Monolayer and Few-Layer MoS2, MoSe2, WS2 and WSe2
AU  - Yue Niu
AU  - Sergio Gonzalez-Abad
AU  - Riccardo Frisenda
AU  - Philipp Marauhn
AU  - Matthias Drüppel
AU  - Patricia Gant
AU  - Robert Schmidt
AU  - Najme S. Taghavi
AU  - David Barcons
AU  - Aday J. Molina-Mendoza
AU  - Steffen Michaelis de Vasconcellos
AU  - Rudolf Bratschitsch
AU  - David Perez De Lara
AU  - Michael Rohlfing
AU  - Andres Castellanos-Gomez
PY  - 2018
DO  - 10.3390/nano8090725
UR  - https://arxiv.org/abs/1810.04745
ID  - 1810.04745
ER  -