TY  - RPRT
TI  - Unique thickness-dependent properties of the van der Waals interlayer antiferromagnet $\mathrm{MnBi_2Te_4}$ films
AU  - Mikhail M. Otrokov
AU  - Igor P. Rusinov
AU  - María Blanco-Rey
AU  - Martin Hoffmann
AU  - Alexandra Yu. Vyazovskaya
AU  - Sergey V. Eremeev
AU  - Arthur Ernst
AU  - Pedro M. Echenique
AU  - Andrés Arnau
AU  - Evgueni V. Chulkov
PY  - 2018
DO  - 10.1103/physrevlett.122.107202
UR  - https://arxiv.org/abs/1810.05289
ID  - 1810.05289
ER  -