TY  - RPRT
TI  - Coherent X-ray measurement of step-flow propagation during growth on polycrystalline thin film surfaces
AU  - Randall L. Headrick
AU  - Jeffrey G. Ulbrandt
AU  - Peco Myint
AU  - Jing Wan
AU  - Yang Li
AU  - Andrei Fluerasu
AU  - Yugang Zhang
AU  - Lutz Wiegart
AU  - Karl F. Ludwig, Jr
PY  - 2019
DO  - 10.1038/s41467-019-10629-8
UR  - https://arxiv.org/abs/1810.11585
ID  - 1810.11585
ER  -