TY  - RPRT
TI  - Benchmarking Gate Fidelities in a Si/SiGe Two-Qubit Device
AU  - X. Xue
AU  - T. F. Watson
AU  - J. Helsen
AU  - D. R. Ward
AU  - D. E. Savage
AU  - M. G. Lagally
AU  - S. N. Coppersmith
AU  - M. A. Eriksson
AU  - S. Wehner
AU  - L. M. K. Vandersypen
PY  - 2018
DO  - 10.1103/physrevx.9.021011
UR  - https://arxiv.org/abs/1811.04002
ID  - 1811.04002
ER  -