TY  - RPRT
TI  - A semi-empirical integrated microring cavity approach for 2D material optical index identification at 1.55 μm
AU  - Rishi Maiti
AU  - Rohit A. Hemnani
AU  - Rubab Amin
AU  - Zhizhen Ma
AU  - Mohammad H. Tahersima
AU  - Tom A. Empante
AU  - Hamed Dalir
AU  - Ritesh Agarwal
AU  - Ludwig Bartels
AU  - Volker J. Sorger
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1811.05323
ID  - 1811.05323
ER  -