TY  - RPRT
TI  - Optical inspection of manufactured nanohole arrays to bridge the lab-industry gap
AU  - A. Franco
AU  - D. Otaduy
AU  - A. I. Barreda
AU  - J. L. FernÁndez-Luna
AU  - S. Merino
AU  - F. GonzÁlez
AU  - F. Moreno
PY  - 2018
DO  - 10.1016/j.optlastec.2019.03.010
UR  - https://arxiv.org/abs/1811.09050
ID  - 1811.09050
ER  -