TY  - RPRT
TI  - Characterization of the ePix100a and the FastCCD Semiconductor Detectors for the European XFEL
AU  - I. Klačková
AU  - G. Blaj
AU  - P. Denes
AU  - A. Dragone
AU  - S. Göde
AU  - S. Hauf
AU  - F. Januschek
AU  - J. Joseph
AU  - M. Kuster
PY  - 2018
DO  - 10.1088/1748-0221/14/01/c01008
UR  - https://arxiv.org/abs/1812.01390
ID  - 1812.01390
ER  -