TY  - RPRT
TI  - Resistivity measurements unveil microscopic properties of CrAs
AU  - A. Nigro
AU  - P. Marra
AU  - C. Autieri
AU  - W. Wu
AU  - J. G. Cheng
AU  - J. Luo
AU  - C. Noce
PY  - 2018
DO  - 10.1209/0295-5075/125/57002
UR  - https://arxiv.org/abs/1812.09957
ID  - 1812.09957
ER  -