TY  - RPRT
TI  - X-ray tools for van der Waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films
AU  - Stefan Kycia
AU  - Sergio L. Morelhao
AU  - Samuel Netzke
AU  - Celso I. Fornari
AU  - Paulo H. O. Rappl
AU  - Eduardo Abramof
PY  - 2018
UR  - https://arxiv.org/abs/1812.10804
ID  - 1812.10804
ER  -