TY  - RPRT
TI  - Correlating 3D atomic defects and electronic properties of 2D materials with picometer precision
AU  - Xuezeng Tian
AU  - Dennis S. Kim
AU  - Shize Yang
AU  - Christopher J. Ciccarino
AU  - Yongji Gong
AU  - Yongsoo Yang
AU  - Yao Yang
AU  - Blake Duschatko
AU  - Yakun Yuan
AU  - Pulickel M. Ajayan
AU  - Juan-Carlos Idrobo
AU  - Prineha Narang
AU  - Jianwei Miao
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1901.00633
ID  - 1901.00633
ER  -