TY  - RPRT
TI  - Rapid high-fidelity gate-based spin read-out in silicon
AU  - G. Zheng
AU  - N. Samkharadze
AU  - M. L. Noordam
AU  - N. Kalhor
AU  - D. Brousse
AU  - A. Sammak
AU  - G. Scappucci
AU  - L. M. K. Vandersypen
PY  - 2019
DO  - 10.1038/s41565-019-0488-9
UR  - https://arxiv.org/abs/1901.00687
ID  - 1901.00687
ER  -