TY  - RPRT
TI  - Quantifying Temperature-dependent Substrate Loss in GaN-on-Si RF Technology
AU  - Hareesh Chandrasekar
AU  - Michael J. Uren
AU  - Michael A. Casbon
AU  - Hassan Hirshy
AU  - Abdalla Eblabla
AU  - Khaled Elgaid
AU  - James W. Pomeroy
AU  - Paul J. Tasker
AU  - Martin Kuball
PY  - 2019
DO  - 10.1109/ted.2019.2896156
UR  - https://arxiv.org/abs/1901.09521
ID  - 1901.09521
ER  -