TY  - RPRT
TI  - Dual mode microwave deflection cavities for ultrafast electron microscopy
AU  - J. F. M. van Rens
AU  - W. Verhoeven
AU  - E. R. Kieft
AU  - P. H. A. Mutsaers
AU  - O. J. Luiten
PY  - 2019
DO  - 10.1063/1.5049806
UR  - https://arxiv.org/abs/1901.09579
ID  - 1901.09579
ER  -