TY  - RPRT
TI  - Room temperature strain-induced Landau levels in graphene on a wafer-scale platform
AU  - P. Nigge
AU  - A. C. Qu
AU  - É. Lantagne-Hurtubise
AU  - E. Mårsell
AU  - S. Link
AU  - G. Tom
AU  - M. Zonno
AU  - M. Michiardi
AU  - M. Schneider
AU  - S. Zhdanovich
AU  - G. Levy
AU  - U. Starke
AU  - C. Gutiérrez
AU  - D. Bonn
AU  - S. A. Burke
AU  - M. Franz
AU  - A. Damascelli
PY  - 2019
DO  - 10.1126/sciadv.aaw5593
UR  - https://arxiv.org/abs/1902.00514
ID  - 1902.00514
ER  -