TY  - RPRT
TI  - Determination of conduction and valence band electronic structure of LaTiOxNy thin film
AU  - Markus Pichler
AU  - Jakub Szlachetko
AU  - Ivano E. Castelli
AU  - Nicola Marzari
AU  - Max Döbeli
AU  - Alexander Wokaun
AU  - Daniele Pergolesi
AU  - Thomas Lippert
PY  - 2019
DO  - 10.1002/cssc.201601632
UR  - https://arxiv.org/abs/1902.03845
ID  - 1902.03845
ER  -