TY  - RPRT
TI  - The atomic lensing model: new opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials
AU  - K. H. W. van den Bos
AU  - L. Janssens
AU  - A. De Backer
AU  - P. D. Nellist
AU  - S. Van Aert
PY  - 2019
DO  - 10.1016/j.ultramic.2018.12.004
UR  - https://arxiv.org/abs/1902.05806
ID  - 1902.05806
ER  -