TY  - RPRT
TI  - Temperature-driven modification of surface electronic structure on bismuth, a topological border material
AU  - Y. Ohtsubo
AU  - Y. Yamashita
AU  - J. Kishi
AU  - S. Ideta
AU  - K. Tanaka
AU  - H. Yamane
AU  - J. E. Rault
AU  - P. Le Fèvre
AU  - F. Bertran
AU  - S. Kimura
PY  - 2019
DO  - 10.1088/1361-6463/ab1515
UR  - https://arxiv.org/abs/1902.06374
ID  - 1902.06374
ER  -