TY  - RPRT
TI  - Stacking order-dependent sign-change of microwave phase due to eddy currents in nanometer-scale NiFe/Cu heterostructures
AU  - O. Gladii
AU  - R. L. Seeger
AU  - L. Frangou
AU  - G. Forestier
AU  - U. Ebels
AU  - S. Auffret
AU  - V. Baltz
PY  - 2019
DO  - 10.1063/1.5093150
UR  - https://arxiv.org/abs/1902.06501
ID  - 1902.06501
ER  -