TY  - RPRT
TI  - Extreme defect sensitivity from large synthetic dimensionality
AU  - Lukas J. Maczewsky
AU  - Kai Wang
AU  - Alexander A. Dovgiy
AU  - Andrey E. Miroshnichenko
AU  - Alexander Moroz
AU  - Max Ehrhardt
AU  - Matthias Heinrich
AU  - Demetrios N. Christodoulides
AU  - Alexander Szameit
AU  - Andrey A. Sukhorukov
PY  - 2019
DO  - 10.1038/s41566-019-0562-8
UR  - https://arxiv.org/abs/1903.07883
ID  - 1903.07883
ER  -