TY  - RPRT
TI  - Temperature-dependent Fowler-Nordheim electron barrier height in SiO2/4H-SiC MOS capacitors
AU  - Patrick Fiorenza
AU  - Marilena Vivona
AU  - Ferdinando Iucolano
AU  - Andrea Severino
AU  - Simona Lorenti
AU  - Giuseppe Nicotra
AU  - Corrado Bongiorno
AU  - Filippo Giannazzo
AU  - Fabrizio Roccaforte
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.mssp.2017.11.024
UR  - https://arxiv.org/abs/1903.08572
ID  - 1903.08572
ER  -