TY  - RPRT
TI  - Visualizing the Effect of an Electrostatic Gate with Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy
AU  - Frédéric Joucken
AU  - Jose Avila
AU  - Zhehao Ge
AU  - Eberth Quezada
AU  - Hemian Yi
AU  - Romaric Le Goff
AU  - Emmanuel Baudin
AU  - John L. Davenport
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Maria Carmen Asensio
AU  - Jairo Velasco Jr
PY  - 2019
DO  - 10.1021/acs.nanolett.9b00649
UR  - https://arxiv.org/abs/1904.09484
ID  - 1904.09484
ER  -