TY  - RPRT
TI  - Electronic Structure Shift of Deep Nanoscale Silicon by SiO$_2$- vs. Si$_3$N$_4$-Embedding as Alternative to Impurity Doping
AU  - Dirk König
AU  - Noël Wilck
AU  - Daniel Hiller
AU  - Birger Berghoff
AU  - Alexander Meledin
AU  - Giovanni Di Santo
AU  - Luca Petaccia
AU  - Joachim Mayer
AU  - Sean Smith
AU  - Joachim Knoch
PY  - 2019
DO  - 10.1103/physrevapplied.12.054050
UR  - https://arxiv.org/abs/1905.06090
ID  - 1905.06090
ER  -