TY  - RPRT
TI  - Theoretical and experimental electron diffraction intensity maps for single crystal silicon from an ultrafast source
AU  - L. E. Malin
AU  - W. S. Graves
AU  - M. Holl
AU  - J. C. H. Spence
AU  - E. A. Nanni
AU  - R. K. Li
AU  - X. Shen
AU  - S. Weathersby
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1905.07390
ID  - 1905.07390
ER  -